Detector de defectos con transductores múltiples GEKKO

por ultrasonidoscon focalización totalFTP

El sistema portátil de examen phased array GEKKO dispone de hasta 64 canales PA paralelos y 4 conectores convencionales adicionales. Una interfaz de usuario intuitiva permite parametrizar rápidamente el sistema, así como realizar exámenes individuales y en grupo (máx. 8). Las combinaciones de aplicaciones PA entre sí o con procesos convencionales (p. ej. TOFD) pueden definirse de forma rápida y flexible. El GEKKO ha sido el primer sistema de AF capaz de realizar exámenes en tiempo real mediante el método de enfoque total (TFM). A lo largo de los años, esta técnica se ha ido perfeccionando y optimizando, de modo que hoy en día son posibles incluso exploraciones rápidas con escáneres x-y y, con trayectos sonoros largos, pueden ejecutarse pruebas con la máxima sensibilidad. Datos clave - Creación de parámetros de prueba asistida por CIVA y, por tanto, cálculo muy rápido de las leyes de retardo incluso para problemas de prueba complejos (matrices, componentes curvos) - Método de enfoque total (TFM) en tiempo real - Amplias representaciones de resultados (A-, B-, C-, D-scans, vista superior, vista lateral, representación 3D, curvas dinámicas, etc.) - Diafonía extremadamente baja entre canales adyacentes (atenuación de diafonía > 50 dB), por tanto, buena relación señal/ruido en el A-scan y en los B- y C-scan de alto contraste - 3 entradas de codificador - Ajuste de la sensibilidad en función del tiempo de funcionamiento y del ángulo, DGS