La instrumentación Keithley facilita la construcción de un sistema LIV (luz-corriente-tensión) para probar módulos de diodos láser de forma rentable.
sistema de prueba de diodo láser pulsado -2520: Sistema de prueba de sincronización que proporciona capacidad de fuente y medición para pruebas LIV pulsadas y continuas.
-TEC SourceMeter SMUs, 2510 y 2510-AT: Garantizan un control estricto de la temperatura de los módulos de diodos láser mediante el control de su refrigerador termoeléctrico.
-Control de temperatura activo :Evita las variaciones de temperatura que podrían hacer que cambiara la longitud de onda de salida dominante del diodo láser, lo que provocaría solapamiento de señales y problemas de diafonía.
-Controlador TEC de 50 W :Permite realizar pruebas a mayor velocidad y con un rango de temperatura de consigna más amplio que otras soluciones de menor potencia.
-Control P-I-D totalmente digital: Proporciona una mayor estabilidad de la temperatura y puede actualizarse fácilmente con un simple cambio de firmware.
-Capacidad de autoajuste para el lazo de control térmico (2510-AT) :Elimina la necesidad de utilizar la experimentación de prueba y error para determinar la mejor combinación de coeficientes P, I y D.
-Amplio rango de temperatura de consigna (-50°C a +225°C) y alta resolución de consigna (±0,001°C) y estabilidad (±0,005°C) :Cubre la mayoría de los requisitos de ensayo para pruebas de producción de componentes y subconjuntos ópticos refrigerados.
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