El CellaCrystal PX 44 ha sido desarrollado para la medición óptica de la temperatura en la producción de cristales de Si y SiC. El calibrado está especialmente adaptado al proceso de cultivo. Gracias a la evaluación híbrida de la señal con una alta resolución constante de < 0.1 K en todo el rango de medición y a la altísima estabilidad a largo plazo gracias a la tecnología de sensor de luz constante, el dispositivo cumple los elevados requisitos de precisión de medición necesarios.
Características especiales:
Rango de medición de 750 a 3000 °C - PX 44 AF 4 calibración especial para la producción de cristales de silicio - PX 44 AF 7 calibración especial para la producción de carburo de silicio - Evaluación híbrida de señales para una alta resolución metrológica - Alta estabilidad a largo plazo gracias al mínimo autocalentamiento - Óptica enfocable para el ajuste exacto de la distancia de medición - Equipo de serie: Interfaz IO-Link y salida analógica