Sistema de inspección óptico 8 series

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Sistemas de inspección de obleas con patrón de amplia gama y alta productividad Los sistemas de inspección de obleas con patrón de la serie 8 detectan una amplia variedad de tipos de defectos con un rendimiento muy elevado para identificar y resolver rápidamente los problemas del proceso de producción. La serie 8 ofrece una supervisión de defectos rentable para la fabricación de chips con sustratos de 150 mm, 200 mm o 300 mm de silicio, SiC, GaN, vidrio y otros, desde el desarrollo inicial del producto hasta la producción en serie. El inspector 8935 de última generación emplea nuevas tecnologías ópticas y técnicas de inspección de área precisas DesignWise® y FlexPoint™ para capturar defectos críticos que pueden causar fallos en los chips. La tecnología DefectWise® AI permite una separación rápida y en línea de los tipos de defectos para mejorar el descubrimiento de defectos y el binning. Con estas innovaciones, la 8935 admite la captura de alta productividad de defectos relacionados con el rendimiento y la fiabilidad a un bajo índice de molestias, lo que ayuda a los fabricantes de chips a acelerar la entrega de sus productos, de forma fiable y a un menor coste. Los inspectores de la serie 8 admiten la supervisión de defectos durante la fabricación de una amplia gama de tipos de dispositivos de nodos de vanguardia y heredados, como dispositivos lógicos, de memoria, de potencia, LED, fotónicos, de RF y MEMS. Los sistemas de la serie 8 también facilitan el control de calidad durante la producción de lentes AR/VR y la fabricación de unidades de disco duro (HDD). Aplicaciones Supervisión de procesos, supervisión de herramientas, control de calidad saliente (OQC)