El sistema de ensayo de nanoindentación a alta temperatura InSEM HT permite el calentamiento independiente de la punta y la muestra en un entorno de vacío, y es compatible con muchas cámaras SEM/FIB o cámaras de vacío independientes. Con temperaturas de hasta 800 °C, es posible simular in situ condiciones de temperatura extremas para obtener datos de ensayo coherentes y fiables. Las puntas de carburo de tungsteno monocristalinas en un soporte de molibdeno están optimizadas para su uso en aplicaciones de pruebas de alta temperatura, y están disponibles en varias geometrías.
- Actuador InForce 50 con calentamiento de puntas para medición de desplazamiento de capacitancia y actuación de fuerza electromagnética con puntas intercambiables
- Calentamiento de muestras hasta 800 °C con tamaño de muestra de 10 mm y sistema de montaje de muestras compatible con el vacío
- Controlador electrónico de alta velocidad InQuest con velocidad de adquisición de datos de 100 kHz y constante de tiempo de 20 µs
- Sistema de movimiento XYZ para la orientación de la muestra
- Captura de vídeo SEM para imágenes SEM sincronizadas con datos de prueba
- Exclusivo sistema de calibración de puntas integrado en el software para una calibración rápida y precisa de las puntas
- Software de control y revisión de datos InView compatible con Windows® 10 y desarrollador de métodos para experimentos diseñados por el usuario
Aplicaciones
- Ensayos a alta temperatura
- Mediciones de dureza y módulo (Oliver-Pharr)
- Medición continua de la rigidez
- Mapas de propiedades de materiales a alta velocidad
- Medición de la fluencia
- Sensibilidad a la velocidad de deformación
Industrias
- Universidades, laboratorios de investigación e institutos
- Aeroespacial
- Fabricación de automóviles
- Recubrimientos duros
- Energía nuclear
- Militar/defensa
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