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Sistema de preparación de muestras para SEM EM TIC 3Xde polímeros
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Características
- Aplicaciones
- para SEM, de polímeros
Descripción
El sistema de corte y pulido con triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite obtener secciones transversales y superficies pulidas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el análisis de microestructuras (EDS, WDS, Auger, EBSD) y estudios AFM. Con el Leica EM TIX 3X obtendrá superficies de alta calidad en prácticamente cualquier material al trabajar tanto a temperatura ambiente como en condiciones criogénicas, y podrá observar las estructuras internas de la muestra en un estado lo más próximo posible a su estado natural.
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