Sistema de preparación de muestras para SEM EM TRIM2

Sistema de preparación de muestras para SEM - EM TRIM2 - Leica Microsystems GmbH
Sistema de preparación de muestras para SEM - EM TRIM2 - Leica Microsystems GmbH
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Características

Aplicaciones
para SEM

Descripción

El sistema Leica EM TRIM2 es un sistema de fresado de alta velocidad con microscopio estereoscópico integrado e iluminador de anillo LED para el desbaste de muestras biológicas e industriales antes de la ultramicrotomía. El sistema Leica TRIM2 incluye un control de avance de 1 µm para la cortadora de fresado, la visualización perpendicular de la muestra incluida para determinar la posición con el fin de realizar un fresado preciso y un excelente sistema de extracción con filtro Hepa.

Catálogos

Leica EM FC7
Leica EM FC7
16 Páginas
Leica EM TRIM2
Leica EM TRIM2
8 Páginas
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 Páginas
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.