Soporte para microscopio XL Stand

La solución de estativo modular Leica XL permite la inspección de muestras de gran tamaño con aumentos estereoscópicos grandes en aplicaciones como la inspección de placas de circuitos impresos, exámenes de rastros forenses en herramientas o documentación e inspección de TFT/LCD. La platina XY (opcional) incluye una esterilla especial antielectrostática con cierre que, cuando se combina con la gran placa base, conecta a tierra el sistema para evitar daños por descarga electrostática en componentes electrónicos sensibles. La platina XY (opcional) admite tamaños de muestras grandes de hasta 400 X 450 mm y la distancia de recorrido de 300 X 300 mm de las platinas permiten manipular tamaños de muestras de hasta 12” X 12”, por lo que se pueden inspeccionar documentos de hasta un tamaño A4 de una sola vez sin reposicionar.