Fuente luminosa de lámparas
UVcompactapara microscopía

Fuente luminosa de lámparas - Leistungselektronik JENA GmbH - UV / compacta / para microscopía
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Características

Tecnología de iluminación
de lámparas
Espectro
UV
Otras características
compacta
Aplicaciones técnicas
para microscopía, de inspección
Longitud de onda

Máx.: 1.000 nm

Mín.: 250 nm

Descripción

Alumbrado de descarga de gas mixto Hg-Xe compuesto por portalámparas con encendido y balasto integrados. Con el sistema de iluminación LEJ Deep UV, obtendrá una radiación UV extremadamente estable gracias a la baja deriva térmica y a la fuente de alimentación de CC muy estable de nuestro balasto. - Además, nuestro sistema permite un ajuste mecánico reproducible de la lámpara, el espejo y el colector. Así, el sistema LEJ Deep-UV es adecuado para la inspección de obleas o para la iluminación durante la revisión óptica y el análisis de fotomáscaras, especialmente de estructuras y anchos de línea en busca de defectos y fallos. Características del producto sin deriva térmica ajuste mecánico reproducible Encendido de alta tensión integrado Función de circuito de seguridad Contador de horas de funcionamiento Campos de aplicación Análisis de fotomáscaras Desinfección Curado UV

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