Sistema de cristalografía de rayos X JF-2

Sistema de cristalografía de rayos X - JF-2 - Liaodong Radioactive Instrument
Sistema de cristalografía de rayos X - JF-2 - Liaodong Radioactive Instrument
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Especificaciones
de rayos X

Descripción

Objeto: El instrumento analítico de cristal de rayos X se utiliza principalmente para reseaching la microestructura interna de la sustancia, como, por ejemplo, cr ystal, examinar las desfiguraciones, la dirección de la sustancia, medir el parámetro de red, medir la tensión de permanencia, etc.

---

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.