El AQ3400 integra 2 canales de diodos de dirección de baja capacitancia y un diodo zener adicional para proporcionar protección a equipos electrónicos que puedan sufrir descargas electrostáticas (ESD) destructivas. El AQ3400 puede absorber con seguridad descargas electrostáticas repetitivas por encima del nivel de contacto máximo especificado en la norma internacional IEC 61000-4-2 (Nivel 4, descarga de contacto de ±8 kV) sin degradación del rendimiento. La baja capacitancia fuera de estado lo hace ideal para proteger líneas de señal de alta velocidad como USB2.0 o USB 3.0 y 1Gb Ethernet con una resistencia dinámica extremadamente baja para proteger los chipsets más sensibles y de última generación contra transitorios ESD.
- ESD, IEC 61000-4-2, ±30kV contacto, ±30kV aire
- ESD, ISO 10605, 330pF 330Ω, ±30kV contacto, ±30kV aire
- EFT, IEC 61000-4-4, 80A (tP=5/50ns)
- Rayo, 8A (8/20μs según se define en IEC 61000-4-5 2ª edición)
- Baja capacitancia de 1pF (TYP) por E/S
- Baja corriente de fuga de 0,01μA (TYP) a 5V
- El encapsulado μDFN (JEDEC MO-229) de factor de forma pequeño proporciona un enrutamiento de flujo para simplificar el diseño de la placa de circuito impreso
- Certificación AEC-Q101
- Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL -1)
- Sin halógenos, sin plomo y conforme a RoHS
- Apto para PPAP
- Televisores LCD/PDP
- Almacenamientos externos
- Reproductores de DVD/Blu-ray
- Descodificadores
- Teléfonos inteligentes
- Ultrabooks/Notebooks
- Cámaras digitales
- Equipos médicos portátiles
- Tecnología portátil
---