Máquina de medición de planitud GI20

para controlde alta precisión

El instrumento de medición de planicidad GI20 de Logitech proporciona una medición de planicidad de alta precisión adecuada para su uso con superficies lapeadas y semipulidas de hasta 150 mm (6″)Ø. A diferencia de los interferómetros fizeau convencionales, el GI20 puede utilizarse para medir superficies no reflectantes, por lo que es ideal para realizar comprobaciones en superficies lapeadas y/o rectificadas antes del pulido final. El interferograma se visualiza en una pantalla situada en la parte delantera de la unidad. Se puede crear una pantalla paralela a través del puerto HDMI y las imágenes también se pueden exportar a través del puerto USB para su análisis externo. Todas las funciones del interferómetro se controlan a través del panel de la pantalla táctil. Interferometría de incidencia rasante Un interferómetro Fizeau estándar, dependiendo de la longitud de onda utilizada, funciona normalmente con una separación de franjas de aproximadamente 0,3µm. Esto suele restringir las mediciones de planitud a materiales altamente reflectantes que proporcionarán suficiente contraste en el monitor. Las cortas distancias resultantes entre las franjas a menudo impiden el análisis de imágenes "ocupadas". Los interferómetros de incidencia rasante de Logitech superan estos problemas mediante la reflexión de la luz láser en un ángulo de incidencia rasante de la superficie de la muestra. Este haz de luz en ángulo garantiza que el monitor muestre franjas tanto en superficies de muestra reflectantes como no reflectantes. También permite una gran apertura visible de 127 mm x 150 mm (5″ x 6″), lo que permite evaluar con precisión muestras de hasta 150 mm (6″)Ø. La pantalla de 7″ permite realizar mediciones rápidas y precisas "en proceso" con el espaciado de las franjas mostrado en un intervalo fijo de 2µm, produciendo excelentes niveles de contraste con acabados de superficie de muestras pulidas de hasta 300nm Ra.