Interferómetro para la medición subnanométrica del desplazamiento MarSurf 3D WI 50 M

compactode luz blanca3D

El MarSurf WI 50M es un potente perfilador de superficies para la medición tridimensional y el análisis de superficies, sin contacto, independiente del material y rápido. Solución básica de alto rendimiento Medición precisa en el rango subnanométrico - sencillo con la nueva MarSurf WI 50 M. Con una guía de usuario de software intuitiva y un diseño muy fácil de usar, este instrumento de medición 3D es ideal para el uso diario en el laboratorio y la gestión de calidad. El nuevo WI 50 M cumple todos los requisitos de sus tareas de medición en el rango nanométrico, ofreciendo el máximo rendimiento y una impresionante relación calidad-precio. Con un enfoque minimalista, un diseño compacto y un amplio espacio de instalación, la herramienta hace honor a su reputación de "solución óptima para principiantes". Tareas de medición típicas - Mediciones de rugosidad según - ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 - Mediciones topográficas (incluyendo volumen, desgaste, tribología) - contorno y forma (2D, 3D) - Análisis de poros y partículas - detección de defectos - ... Máxima calidad de datos Uno de nuestros criterios más importantes, que equivale a una excelente precisión, exactitud, reproducibilidad y documentación para garantizar la trazabilidad y la auditabilidad. Nuestro mayor servicio para el cliente es proporcionar un valor de medición cuantitativo que pueda aplicarse de forma fiable en las áreas de ingeniería, producto, diseño de procesos y control de calidad.