Detector de la por difracción de rayos X PIXcel1D

detector de la por difracción de rayos X
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Características

Tecnología
de la por difracción de rayos X

Descripción

Tecnología Medipix como detector de tiras dedicado Con el detector PIXcel1D dispondrá de un detector de banda específico para aplicaciones 0D y 1D. Puede medir hasta 255 veces más rápido que con un detector puntual tradicional, sin comprometer la calidad de los datos. Sin necesidad de agua de refrigeración, flujo de nitrógeno líquido, gas de recuento o calibraciones que requieren mucho tiempo, es una solución rentable. Con una resolución y un rango dinámico inigualables, el PIXcel1D puede utilizarse con todos nuestros difractómetros. Desde la difracción de rayos X en polvo hasta estudios de alta resolución de capas finas El PIXcel1D cubre una amplia gama de aplicaciones 1D que requieren las longitudes de onda de radiación de energía media y baja, es decir Cu, Co, Fe, Mn, Cr: Identificación de fases y cribado de alto rendimiento Cuantificación sin patrón de mezclas de fases Perfeccionamiento de estructuras cristalinas Transiciones de fase en condiciones no ambientales en combinación con nuestras fases in situ Tensión residual, textura e identificación de fases de metales y aleaciones Difracción de polvo de cristales de celda unitaria grande Estudios de películas delgadas.

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