Los CT10, CT100 y CT1000 están diseñados para realizar pruebas sencillas y precisas de contaminación iónica en total conformidad con las normas MILP-28809, MIL-STD- 2000A, EF-STD 10/03, IPC-TR-583, IEC...
Estas medidas son necesarias para comprobar la limpieza de las placas de circuito impreso y los conjuntos después de la limpieza, o en caso de nuevos parámetros del proceso de soldadura (sin proceso de limpieza, revestimiento de conformación, aleación sin plomo con nuevo activador...), para el control y la aprobación de la calidad. En atmósfera húmeda, la contaminación iónica se transforma en electrolito atrapando iones móviles que pueden crear fallos en los conjuntos electrónicos (dendritas, mal aislamiento con corrientes de fuga...).
La prueba de contaminación iónica señalará estos riesgos, asegurará en consecuencia el proceso de montaje y prolongará la vida útil y la fiabilidad del producto final. En primer lugar, el proceso consiste en limpiar eficazmente la muestra utilizando 2-propanol químico y agua desionizada (75/25 o 50/50) mientras se analiza continuamente el desarrollo de la contaminación en la solución de limpieza que circula en un tubo de bucle cerrado.
CASOS DE USO
- Caso STPI
- Caso AlbaPCB
ESPECIFICACIONES
Control de la contaminación iónica de componentes y procesos de PCB (con/sin limpieza, con/sin plomo)
Cumplimiento de los requisitos de MIL, IPC, IEC...
3 equipos, dependiendo del tamaño de los PCBs :
CT 10 Hasta 25 x 100 x 150 mm (tamaño mínimo de la placa única 20 cm²)
CT 100 Hasta 80 x 250 x 350 mm (tamaño mín. 100 cm2)
CT 1000 Hasta 120 x 500 x 660 mm (tamaño mín. placa única 500 cm²)
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