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Sistema de inspección de rayos X X36 Series DXD+
AMDde rayos X por dispersión de energíaautomatizado

Sistema de inspección de rayos X - X36 Series DXD+ - Mettler Toledo  - AMD / de rayos X por dispersión de energía / automatizado
Sistema de inspección de rayos X - X36 Series DXD+ - Mettler Toledo  - AMD / de rayos X por dispersión de energía / automatizado
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Características

Tecnología
de rayos X, AMD, de rayos X por dispersión de energía
Especificaciones
automatizado
Aplicaciones
para la industria del embalaje

Descripción

Tecnología de detección avanzada. El innovador detector de energía doble DXD+, que se puede incorporar al X36, ofrece una detección de contaminación sin igual de contaminantes difíciles de encontrar, como hueso calcificado, goma y vidrio, en aplicaciones de productos texturizados y superpuestos. Superación de los requisitos de detección La tecnología de detección DXD+ puede superar las expectativas del mercado en cuanto a detección de contaminación y cumplir las especificaciones más exigentes de los clientes. Inspección mejorada con AMD Gracias a nuestro programa AMD, que incorpora los últimos algoritmos de discriminación de materiales, DXD+ ofrece una detección de contaminación ejemplar. Funciones sencillas La configuración automatizada del producto y el software inteligente aumentan el tiempo de funcionamiento, reducen los costes, mejoran la sensibilidad del detector y minimizan las tasas de falsos rechazos.

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.