Equipo de prueba de semiconductores HATINA GP

de calidadautomatizadopara componentes electrónicos

ATE DE PROPÓSITO GENERAL PARA ASIC, PMIC y Smart Power El HATINA GP está diseñado para probar complejos Smart Power ICs y SoC. Recomendado para alto paralelismo. Características destacadas: - El multiplexor integrado reduce la complejidad de la placa de carga - >99% de eficiencia en pruebas paralelas que proporciona el mejor COT de su clase - La instrumentación modular se adapta a las necesidades del mercado y la tecnología - Una huella más pequeña y menos energía mejoran el retorno de la inversión - El desarrollo automatizado del programa de pruebas mejora el tiempo de comercialización - Revolucionarias herramientas de software (Kronos) Características principales: - Fuentes de CC [IV cuadrantes referidos a tierra] Baja potencia: hasta 160 recursos por ranura [±110 V, ±200 mA] - Fuentes de CC [IV cuadrantes referidos a tierra] Potencia media: hasta 80 recursos por ranura [±110 V, ±4 A] - Fuentes de CC [cuadrantes IV totalmente flotantes] Alta potencia: hasta 16 recursos por ranura [±80 V, ±10 A] - Canales digitales: hasta 256 canales por ranura [nivel de salida de -1,25V a 6,75V, 50mA, carga activa ±12mA] - Canal digital LF II°Gen @200MHz hasta 1024 - DPS HC [Fuente de alimentación digital - Alta corriente] 5,5V@10A hasta 80 - DPS LC [Fuente de alimentación digital - Baja corriente] 7V@1A hasta 256 - Canal digital HF @800MHz hasta 256 - Unidad de medición de tiempo y medidor diferencial, AWG y digitalizador - OPCIÓN: -Opción HV - Unidad de medida de tiempo hasta 64 - Driver Digital Flotante hasta 192 - Medidores LCR: hasta 64 - PPMU: hasta 64 - Medidores Pico: hasta 64 [20pA como precisión] - Cargas inductivas y resistivas hasta 64 x 2 Dimensiones - Altura: 700 mm - Anchura: 670 mm - Profundidad: 640 mm