Equipo de prueba de semiconductores VIP EXTENDED

de calidadautomáticode oblea

Equipos de prueba automáticos configurables para productos de potencia de Si, SiC y GaN; circuitos integrados de conductor de lado alto y bajo, IGBT, MOSFET de potencia, circuitos integrados de potencia. Aspectos destacados: - Alto UPH para clasificación de obleas y ensayo de bandas - Prueba paralela de 48 x sitio para Rg, Cg y UiS - COT más bajo para productos de potencia Características principales: - Fuentes de CC [4 cuadrantes referidos a tierra] Potencia media: hasta 64 recursos [±110V, ±4A] - DC Programable Sink / Fuente de Corriente: hasta 64 recursos [hasta ±250A] - Canales Digitales: hasta 320 canales [-1,25V a 6,75V nivel de salida, 50mA, Carga activa ±12mA, 64M Memoria Patrón/ch, 32M Memoria DSIO/ch, una PPMU por canal] - Unidad de medida de tiempo hasta 64 - Controlador digital flotante: hasta 192 - Medidores LCR: hasta 64 - PPMU: hasta 64 - Medidores Pico: hasta 64 [20pA como precisión] - Cargas inductivas y resistivas hasta 64 x2 Dimensiones - Altura: 350 mm - Anchura: 600 mm - Profundidad: 640 mm