Microscopio de fuerza atómica NaioAFM

para inspección de superficiede medidaspara medición de la rugosidad superficial

El NaioAFM es el microscopio de fuerza atómica ideal para la nanoeducación y la investigación básica en muestras pequeñas. Este sistema de AFM todo en uno ofrece un rendimiento sólido y un manejo sencillo, con un precio y un tamaño que se adaptan a cualquier persona y lugar. - Sistema de AFM plug-and-play todo en uno - Todos los modos de funcionamiento estándar - Famosamente fácil de usar Sistema AFM "todo en uno" plug-and-play El sistema NaioAFM consta únicamente del cabezal de escaneo montado en una pequeña plataforma de aislamiento de vibraciones con controlador integrado. Sólo se tarda unos minutos en configurarlo y prepararlo para una medición. Ideal para un curso universitario o un aula, el NaioAFM tiene un diseño robusto y es insensible a la manipulación descuidada por parte de usuarios novatos, pero funciona bien en una gran variedad de muestras. Todos los modos de funcionamiento estándar A pesar de su diseño básico, el NaioAFM cuenta con una versátil selección de modos de medición. El NaioAFM es capaz de medir en todos los modos de funcionamiento estándar, e incluso puede realizar una caracterización eléctrica básica y una espectroscopia de fuerza básica. Si está aprendiendo a utilizar el AFM o sólo necesita una funcionalidad básica para su investigación, el NaioAFM ha sido el instrumento elegido durante más de una década. Sólo se tarda 10 minutos en aprender El NaioAFM es el microscopio de fuerza atómica más fácil de usar jamás construido. Gracias al soporte de manejo integrado, como el chip de alineación de voladizos, ni siquiera es necesario tener las manos perfectamente firmes para configurar este AFM para la medición. Ni siquiera requiere alineación láser: conéctelo todo, coloque un cantilever y su muestra, y obtendrá sus primeros resultados en cuestión de minutos.