Microscopio AFM Alphacen 300

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El sistema Alphacen 300 es una solución de AFM única que puede manejar muestras grandes y pesadas con facilidad. Cuenta con el cabezal de escaneo Flex-Mount, que tiene un diseño de punta-escáner que permite obtener imágenes de alto rendimiento independientemente del tamaño o peso de la muestra. El controlador CX, el controlador de AFM más avanzado de Nanosurf, ofrece un control rápido y preciso del proceso de escaneado. El recinto acústico específico reduce el ruido externo y las vibraciones. Además, el sistema puede personalizarse aún más con ejes adicionales de traslación o rotación para adaptarse a su muestra específica. Ningún otro sistema de AFM ofrece tanta versatilidad y funcionalidad. - El diseño del escáner de puntas garantiza imágenes de alta calidad independientemente del tamaño o peso de la muestra - Muestras de hasta 300 mm x 300 mm y 45 kg - Un recinto acústico específico para minimizar el ruido externo y las vibraciones - Puede servir de base para soluciones personalizadas Diseño de escáner de puntas para investigación Utilizando la probada tecnología de cabezal de exploración de investigación FlexAFM de Nanosurf, el Alphacen 300 ofrece imágenes de alta calidad y un rendimiento fiable. El escáner presenta un diseño de punta basado en la flexión que garantiza una exploración plana y lineal, una alta resolución y un funcionamiento estable. Muestras grandes y pesadas El Alphacen 300 es un AFM de escaneo de puntas que puede manejar muestras grandes y pesadas con facilidad. Puede medir muestras de hasta 300 mm x 300 mm de tamaño y hasta 45 kg de peso con este dispositivo. La platina de aproximación z de 50 mm también le permite montar muestras gruesas sin problemas.