Microscopio de fuerza atómica LensAFM

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El Nanosurf LensAFM es un microscopio de fuerza atómica que llega allí donde los microscopios ópticos y los perfilómetros alcanzan sus límites de resolución. Se monta como una lente objetiva normal, ampliando así la resolución y las capacidades de medición de estos instrumentos. El LensAFM no sólo proporciona información topográfica de superficies en 3D, sino que también puede utilizarse para analizar diversas propiedades físicas de una muestra de medición. Integración perfecta En un número cada vez mayor de situaciones, los investigadores buscan combinar técnicas de microscopía óptica y de fuerza atómica. La facilidad de uso, la capacidad de exploración y los requisitos mínimos de preparación de muestras de los microscopios ópticos son casi incomparables. Sin embargo, cuando la resolución de un objetivo de 100 aumentos no es suficiente para examinar pequeñas características más allá de la resolución del instrumento, entra en juego el LensAFM. Su diseño excepcionalmente pequeño y su inteligente mecanismo de montaje hacen que sólo tenga que girar la torreta de su microscopio óptico o perfilómetro y ejecutar la exploración. Mejore su microscopía óptica con AFM para obtener información avanzada Dado que la resolución de la microscopía óptica está limitada por la longitud de onda de la luz, existe una barrera en la resolución que puede alcanzar con su sistema óptico. En un número cada vez mayor de aplicaciones, esto exige la combinación de microscopía óptica y microscopía de fuerza atómica. Además, la AFM supera los problemas de caracterización de muestras transparentes o de muestras que, de otro modo, serían difíciles de evaluar ópticamente. Pero no sólo interesa la topografía gruesa de una muestra: La AFM también permite conocer otras propiedades de los materiales,