Aparato de medición para ensayo de la conductividad térmica LFA 457 MicroFlash®

láserde infrarrojosvertical

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® posee la más moderna tecnología para sistemas de láser-flash modernos. El instrumento de sobremesa permite realizar mediciones desde -125°C a 1100°C utilizando dos hornos diferentes intercambiables por el usuario. La innovadora tecnología de sensor de infrarrojos empleada en el sistema permite la medición del incremento de temperatura en la superficie del dorso de la muestra, incluso a temperaturas de -125º.El instrumento se puede utilizar para tamaños de muestra grandes y pequeños con un diámetro de hasta 25,4 mm y, con el cambiador de muestra integrado, se pueden realizar mediciones en varias muestras al mismo tiempo. El diseño impermeable al vacío permite realizar pruebas bajo atmósferas definidas. La disposición vertical del soporte de muestra, horno y detector simplifica la colocación de la muestra y al mismo tiempo, garantiza una relación de señal / ruido óptimo en la señal del detector. El LFA 457 MicroFlash® es el sistema LFA más actualizado y versátil para la investigación y el desarrollo, y para todas las aplicaciones que comportan la caracterización de materiales normativos y de alto rendimiento en la fabricación de automóviles, aeronáutica, astronáutica y tecnología energética. Datos Técnicos Intervalo de temperaturas -125°C a 500°C, RT a 1.100°C (2 tipos de hornos intercambiables) Ratios de calentamiento y de enfriamiento 0.01 K/min a 50 K/min Potencia del láser 15 J/impulso, (potencia ajustable) Intervalo de medición: 0.01 mm2/s a 1000 mm2/s (difusividad térmica) Intervalo Gamas de medición: 0,1 W/mK a 2000 W/mK (conductividad térmica) Dimensiones de la muestra: 10 mm a Diámetro 25.4 mm