Microscopio digital Eclipse LV150NA
de inspecciónindustrialrecto

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Características

Tipo
digital
Aplicaciones técnicas
de inspección, industrial
Ergonomía
recto
Técnica de observación
de campo claro, de fluorescencia, polarizado, de fondo oscuro, de contraste de interferencia diferencial
Configuración
de sobremesa
Otras características
con gran distancia de trabajo, modular, para semiconductor
Peso

8,7 kg
(19,2 lb)

Largo

362 mm
(14,3 in)

Ancho

251 mm
(9,9 in)

Altura

519 mm
(20,4 in)

Descripción

Una serie de microscopios verticales, modulares y flexibles para varias técnicas de contraste óptico episcópico (BF-DF-DIC-POL-Fluorescencia-interferometría). Junto con accesorios de imagenología digital y los grandes recorridos X-Y de la platina, los instrumentos son ideales para actividades de inspección de materiales y semiconductores. Microscopios verticales modulares, manuales y motorizados La magnífica óptica de Nikon CFI60-2 ofrece inmejorables imágenes a los dos oculares y a las cámaras de imagenología digital de Nikon con software de análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en una solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV150NA y LV150N Estos microscopios con iluminación episcópica son para la inspección de semiconductores, materiales y componentes industriales. También son adecuados para su uso en aplicaciones de investigación y desarrollo. Serie óptica Nikon CFI60-2 El innovador diseño de Nikon hace posible el uso de técnicas de imagenología incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz.

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