Máquina de control de rayos X XT H Series

tomografía digitalindustrialpara la industria electrónica

Los sistemas adaptables de CT con microenfoque de Nikon ofrecen inspección de alta resolución de componentes, que van desde coneactores de plástico minúsculos hasta piezas de aluminio fundido para I+D, análisis de fallas y control de calidad de la producción. Soluciones adaptables para las aplicaciones de inspección más exigentes Estos sistemas combinan la adaptabilidad necesaria en el laboratorio, con funciones únicas como Rotating.Target 2.0 de 225 kV, el modo de adquisición TC Half.Turn y Auto.Filament Control para reducir el tiempo del ciclo y mejorar el tiempo productivo cuando se utiliza para inspección de las series en el área de producción. Flexibilidad cuando se necesita Gracias a la posibilidad de elegir la fuente, los objetivos, las estrategias de escaneo TC y las opciones como el ajuste motorizado de distancia de la fuente al detector, los sistemas XT H son versátiles y se adaptan a un amplio rango de tareas de inspección. X.Tend Helical CT Los objetos altos se pueden escanear en un solo proceso de adquisición, eliminando los artefactos introducidos por el haz cónico y el pegado de imágenes de escaneo múltiple. Esto también ofrece el beneficio adicional de escanear los objetos con mayor aumento, lo que da como resultado una resolución significativamente mayor. Rotating.Target 2.0 único de 225 kV Permite una operación continua de hasta 450 W con una resolución hasta tres veces más para la misma potencia, o recolección de datos tres veces más rápida para una resolución específica.