Espectrómetro de emisión óptica VeOS

de emisión óptica por chispade laboratoriopara análisis

El espectrómetro de emisión de chispas VeOS de OBLF, que cuenta con una tecnología de detección de vanguardia basada en detectores de semiconductores especialmente desarrollados para la espectroscopia de emisiones, permite un análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos comunes. El espectro analítico también incluye el análisis preciso de elementos de longitud de onda corta como el nitrógeno o el bajo contenido de carbono. VentajasInclusión completa y flexible de todas las tareas analíticasCaracterísticas fácilmente ampliablesLa última tecnología de detector especialmente desarrolladaExcelente rendimiento en cuanto a límite de detección, precisión, estabilidadDiseño robusto para su uso en entornos de trabajo pesadoOpciones de aplicación multi-matriz más completas sin restricciones en cuanto a la selección de elementos para el análisisDetección precisa de N y trazas de carbono (ULC)El VeOS de OBLF es el primer espectrómetro de chispa que cuenta con un sistema de detección basado en semiconductores cuyo rendimiento analítico -incluida la resolución espectral necesaria para un espectrómetro de laboratorio- es tan bueno como el de los sistemas basados en fotomultiplicadores ya establecidos. Esta nueva tecnología de fotodetector fue desarrollada específicamente para la espectroscopia de emisión de chispa y garantiza excelentes resultados en todo el rango de longitud de onda requerido de 130 a 800 nm. El diseño de los detectores sensibles a la luz, que se caracterizan por una superficie 100 veces más sensible a la luz que los detectores de los sistemas convencionales, se adaptó especialmente a los requisitos de la espectroscopia de emisiones.