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Sistema de metrología para obleas QS2200™para semiconductores
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Características
- Tipo
- para obleas, para semiconductores
Descripción
Análisis no destructivo de obleas
Resumen de productos
El sistema QS2200 es una herramienta de metrología FTIR diseñada específicamente para el análisis no destructivo de obleas. Se utiliza para la caracterización y medición de materiales semiconductores así como para la fabricación de dispositivos.
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.