Platina de posicionamiento XY 100-GS100-02

manualcompactapara microscopio

Una alternativa a nuestro adaptador de vista oblicua y nuestras mesas basculantes son nuestras etapas de medición, así como nuestras etapas de deslizamiento o deslizamiento. Para la inspección de muestras grandes y planas, como los ensamblajes electrónicos, podemos recomendar nuestras etapas de deslizamiento o deslizamiento. Estos dispositivos de posicionamiento fáciles de usar aumentan significativamente la eficacia de sus procedimientos de prueba. La robusta construcción puede moverse con facilidad y precisión y además se detecta en X y en Y. La parte inferior está provista de pies de goma, que aseguran un soporte antideslizante. Características técnicas: - para la luz incidente - escenario de deslizamiento compacto - área de deslizamiento 100x100 mm - pies de goma para un posicionamiento estable en cualquier superficie - fijable en ambas direcciones con tornillos de fijación - resistente hasta 10 kg - satisface con una construcción sólida y un funcionamiento suave - tamaño del escenario 200x200 mm - proyección máxima: 320x360 mm - dimensiones: aprox. 300x250x58 mm - peso: aprox. 3 kg