Espectrómetro Raman ATP3030
ultravioletade vigilanciarápido

espectrómetro Raman
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Características

Tipo
Raman, ultravioleta
Sector
de vigilancia, rápido, para OEM
Otras características
de alta resolución, USB
Longitud de onda

Mín.: 200 nm

Máx.: 1.000 nm

Largo

124 mm
(4,88 in)

Ancho

90 mm
(3,54 in)

Alto

37 mm
(1,46 in)

Descripción

El ATP3030 es un microespectrómetro de ultra alta resolución desarrollado por Optosky. La resolución más alta puede alcanzar los 0,05 nm, lo que es adecuado para todo tipo de aplicaciones de alta resolución. Al mismo tiempo, tiene las características de alta fiabilidad, ultra-alta velocidad, bajo coste, alto rendimiento de costes, etc. Puede utilizarse en diversas aplicaciones ambientales, como las pruebas en línea. El ATP3030 es perfecto para la detección rápida gracias a su alta frecuencia de convertidor A/D y a la alta velocidad de transmisión de datos. En el chip de memoria del ATP3030, se programan sólidamente algunos algoritmos para mejorar el rendimiento, como los coeficientes de calibración de la longitud de onda, los coeficientes de linealidad. ATP3030 funciona con una única alimentación de +5V DC suministrada desde USB o UART ATP3030 tiene SDK libre para los clientes de auto-desarrollo, Optosky apoyo C ++, C #, Labview y Linux sistema SDK, que es muy conveniente para los clientes OEM para diseñar soluciones. Alta resolución, baja luz parásita Rango máximo: 180-1150nm Resolución: 0.05-2nm Recorrido de la luz: Forma de M Detector: CMOS de 2048 píxeles Tiempo de integración: 0,1ms - 60s Alimentación: DC 5V±10% o alimentación USB ADC: 16 bits Velocidad de muestreo: 2 MHz Salida: USB 2.0 o UART Conector USB: USB Tipo-C; Detección de luminiscencia de plasma; LIBS Detección del espectro Raman; Control de la longitud de onda, láser, led, etc Analizador de la calidad del agua Analizador de gases de combustión ultravioleta Clasificador de leds y detección de color Microespectrómetro y espectrofotómetro rápido; Análisis del espectro, espectrofotometría de radiación y espectrofotometría

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