Objetivo de microscopio infrarrojo Xi 400

para microscopíade medidas

La nueva óptica microscópica para la cámara infrarroja optris Xi 400 permite una medición fiable de la temperatura en objetos muy pequeños a partir de 240 µm. En combinación con un soporte adecuado, permite una medición profesional de placas de circuitos impresos y componentes de la industria electrónica. La distancia de medición entre la cámara y el objeto es variable entre 90 y 110 mm. El motor de enfoque integrado permite enfocar la cámara fácilmente con el software PIX Connect incluido. Parámetros importantes • Análisis de componentes muy pequeños hasta 240 µm • Manejo fácil gracias al motor de enfoque • Grabación de videos radiométricos • Resolución óptica: 382x288 px • Alcance del suministro: Cámara Xi 400 Cable USB (1 m) Cable PIF éstandar (1 m), borne de conexión includo bloque de terminales Soporte de montaje con tuerca Software optris® PIX Connect • Detector: FPA, no refrigerado (17 µm Pitch) • Resolución óptica: 382 x 288 píxeles • Rango espectral: 8 – 14 µm • Rango de temperatura (escalable mediante teclas de programación o software): –20 °C … 100 °C 0 °C … 250 °C (20) 150 °C … 900 °C 1) • Frecuencia de imagen: 80 Hz / 27 Hz • Óptica microscópica: 18° x 14° (f = 20 mm) • Punto de medición más pequeño (FOV): 81 µm @ 90 mm • Instantaneous Field of View (IFOV): 80 µm • MFOV: 240 µm @ 90 mm • Enfoque: Enfoque motorizado manual • Relación punto de medición – distancia (D:S): 390:1 (lente 18°) • Sensibilidad térmica (NETD): 80 mK @ 27 Hz • Precisión del sistema (a temperatura ambiente 23 ±5 °C): ±2 °C or ±2 %, cualquiera que sea major