Microscopio de sonda de barrido NX10

para la investigaciónde alta resolución

El Park NX10 AFM es un AFM de investigación para una amplia gama de campos de aplicación que van desde polímeros, nanoelectrónica, aplicaciones fotónicas y fotovoltaicas, biofísica y química física. Cuenta con el verdadero AFM sin contacto que prolonga la vida de la punta mientras preserva su muestra, y el escáner XY y Z independiente basado en la flexión para una precisión y resolución sin precedentes. Gracias a SmartScan, el software de funcionamiento automatizado de Park, el NX10 es capaz de realizar una configuración más rápida y sencilla y una recogida de datos más óptima con sólo tres clics de ratón. Park NX10 también está disponible con el módulo SCIM como estándar para la obtención de imágenes a nanoescala en entornos acuosos para una amplia gama de aplicaciones como la biología celular, la química analítica, la electrofisiología, la neurociencia Principales características técnicas: escáner 2D guiado por flexión con un rango de escaneo de 50 µm x 50 µm * Escáner Z de alta velocidad con un rango de escaneo de 15 µm * Sensores de posición XYZ de bajo ruido * Etapa de muestra XY motorizada * Automatización de paso y escaneo * Módulo de microscopía de conductancia iónica de barrido