Microscopio de fuerza atómica NX-TSH

para inspección de pantallas planasde medidasde metrología

Cabezal de escaneo Park NX-Tip - Sistema automatizado de microscopía de fuerza atómica (AFM) para medir pantallas planas ultra grandes y pesadas a nanoescala Para responder a la creciente demanda de metrología basada en AFM en pantallas planas de mayor tamaño, Park Systems ha introducido el cabezal de escaneo NX-Tip, que supera los retos de la nanometrología para dimensiones de muestra superiores a 300 mm y pesos superiores a 1 kg. El cabezal de exploración de puntas (TSH) es un cabezal de puntas móviles diseñado específicamente para mediciones y análisis automatizados de AFM en muestras de gran tamaño, como pantallas OLED y LCD. Con el Park NX-TSH se pueden obtener imágenes de AFM fiables y de alta resolución en OLEDs, LCDs, fotomáscaras y más, utilizando un sistema de puente de estilo gantry para mejorar la productividad y la calidad.