Los sistemas de microscopía IR Spotlight™ están diseñados para afrontar los retos de un laboratorio en expansión mediante la generación de datos reproducibles y de alta calidad a partir de una gran variedad de tipos de muestras. El sistema de obtención de imágenes FT-IR Spotlight 400 combina una alta sensibilidad y una rápida obtención de imágenes con una gran facilidad de uso. La capacidad de obtener rápidamente imágenes de grandes áreas de muestras con una alta resolución espacial amplía la microscopía FT-IR a nuevas aplicaciones.
Imágenes FT-IR para análisis excepcionales
El sistema de captura de imágenes FT-IR Spotlight 400 está diseñado con la tecnología más avanzada para permitir una automatización inteligente y sofisticadas capacidades de análisis. El sistema incorpora una serie de herramientas de productividad exclusivas y cuenta con un sistema de obtención de imágenes ATR que permite recoger imágenes infrarrojas de alta resolución de muestras extremadamente pequeñas para visualizar la composición de los materiales a partir de los datos espectrales FT-IR.
Entre las características exclusivas del sistema Spotlight 400 se incluyen:
Producción espectral de alta calidad e imágenes de áreas de muestras, con resoluciones de píxeles de 6,25, 25 ó 50 micras
Localización de regiones de interés (ROI) para facilitar el análisis de múltiples partículas y capas a la vez
Configurabilidad para ser utilizado con rango extendido de infrarrojo medio, infrarrojo cercano o FT-IR de rango dual con el sistema Spectrum 3™ para proporcionar la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible.
Configurabilidad para ser utilizado con FT-IR de rango medio, cercano o dual con los sistemas Spectrum 3™ para dar la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible.
El sistema de captura de imágenes FT-IR Spotlight 400 puede configurarse para satisfacer sus demandas de microscopía FT-IR y producir espectros e imágenes FT-IR de alta calidad a partir de muestras extremadamente pequeñas.
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