Los sistemas de microscopía IR Spotlight™ están diseñados para afrontar los retos de un laboratorio en expansión generando datos reproducibles y de alta calidad a partir de una gran variedad de tipos de muestras. Spotlight combina tecnología inteligente y sencillez de funcionamiento para afrontar los retos actuales y futuros.
El sistema de microscopía FT-IR Spotlight 200i está diseñado con tecnología de vanguardia para permitir una automatización inteligente y sofisticadas capacidades de análisis. El sistema utiliza un detector de punto único de alto rendimiento para ofrecer la mejor sensibilidad, mientras que la iluminación LED de luz blanca proporciona imágenes visibles superiores. Además, el Spotlight 200i también tiene la capacidad de actualizarse completamente al sistema de imágenes Spotlight 400.
Entre las características exclusivas del sistema Spotlight 200i se incluyen:
Producción espectral de alta calidad a partir de áreas de muestra con límites de difracción tan bajos como 10 micras
Localización de regiones de interés (ROI) para facilitar el análisis de múltiples partículas y capas a la vez
Capacidad de funcionamiento en transmisión, reflectancia y modos micro-ATR automatizados para una máxima flexibilidad de muestreo
Configurabilidad para su uso con FT-IR de rango medio, cercano o dual con los sistemas Frontier™ o Spectrum Two™ para ofrecer la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible.
Microscopía FT-IR para cada desafío
El sistema de microscopía FT-IR Spotlight 200i puede configurarse para satisfacer sus demandas de microscopía FT-IR y producir espectros de alta calidad a partir de muestras extremadamente pequeñas. Consulte la tabla de configuraciones a continuación para ver las opciones estándar.
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