Perfilómetro 3D TopMap Micro.View+

ópticopara medición de la rugosidad superficialde medición de forma

PERFILÓMETRO ÓPTICO MODULAR PARA RUGOSIDAD NM Y MICROESTRUCTURAS TopMap Micro.View+ es la nueva generación de tecnología de medición óptica de superficies de Polytec. Su diseño modular permite varias configuraciones, adaptadas a sus tareas de inspección de superficies, ya sea para textura, microestructuras, forma o rugosidad en piezas fabricadas con precisión o microsistemas. Micro.View+ está diseñado para laboratorios de medición e investigación, pero también sirve para aplicaciones en línea mediante la integración de sensores puros. Visualice su topografía 3D y utilice el modo de color para una visualización y diferenciación más significativas, por ejemplo, de defectos superficiales o para documentación. Disponible opcionalmente con una cámara de 5 MP. El completo paquete de accesorios simplifica y acelera sus mediciones. Mientras que el Focus Finder y el innovador Focus Tracker mantienen siempre enfocadas las muestras de ensayo en cualquier circunstancia y durante el reposicionamiento, la mesa de posicionamiento totalmente motorizada admite el cosido y los ensayos automatizados a la vez que ajusta automáticamente la punta/inclinación. + Interferómetro de luz blanca de primera clase con resolución subnm + Rango de medición vertical de 100 mm con tecnología de barrido continuo CST + Focus Finder y Focus Tracker ideales para el control automatizado de la producción + Modo color para el análisis profesional y la documentación de defectos + Modular para configuraciones específicas de la aplicación + NUEVO: Opciones de objetivo ampliadas 0,6X ... 111X ahora disponibles