Perfilador óptico compacto para microestructuras y rugosidad
TopMap Micro.View® es el sistema de medición compacto de la familia TopMap de interferómetros de luz blanca que permite inspecciones y evaluaciones repetibles y de alta resolución de detalles estructurales superficiales, textura superficial y parámetros de rugosidad superficial. Con la tecnología de escaneo continuo CST integrada, el recorrido de 100 mm en el eje Z ofrece un rango de medición completo de 100 mm con una resolución vertical en el rango de los nanómetros. Este perfilómetro óptico se caracteriza por su diseño compacto con electrónica integrada e impresiona por su facilidad de uso, por ejemplo, mediante la función automática Focus Finder para mediciones rápidas y eficaces en entornos de producción y laboratorios de ensayo.
+ Análisis topográfico completo en área y 3D de rugosidades y texturas y microestructuras
+ Sistema perfilador compacto para el análisis de detalles superficiales
+ Gran rango de medición vertical de 100 mm con tecnología de escaneo continuo CST
+ Excelente resolución lateral
+ Objetivos específicos de la aplicación
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