El sistema de prueba de semiconductores PST6747A es un instrumento profesional para medir y analizar los parámetros estáticos de dispositivos semiconductores de potencia, que puede proporcionar una solución de prueba completa para diferentes tipos de dispositivos semiconductores de potencia.
Es una plataforma de prueba de parámetros estáticos IGBT favorable.
El PST6747A puede medir y analizar los parámetros estáticos de dispositivos semiconductores de potencia con precisión a 3 KV (10 kV, opcional) y 2200 A. El PST6747A tiene la capacidad de detección de corriente de nivel fA y pulso rápido, y tiene una capacidad superior de medición de corriente y voltaje amplio. Estas funciones se pueden utilizar para probar el último tipo de dispositivo, como IGBT, y nuevos materiales, como GaN y SiC.
El PST6747A está compuesto por fuentes independientes de alta precisión, entre ellas P6701B (fuente de alta precisión de alto voltaje de 3 kV), P6703B (fuente de alta precisión) y P6705A (fuente de alta corriente de 2200 A), etc. Hay dos convertidores AD (analógico-digital) separados que admiten una frecuencia de muestreo de 2 µS en cada módulo de fuente de alimentación. El controlador de cada módulo se puede controlar de forma independiente y precisa, y la sincronización clave que puede afectar las características del semiconductor se puede monitorear con precisión.