El CHRocodile CLS 2.0 permite medir superficies complejas con grandes pendientes a muy alta velocidad y sin sombras. El sensor confocal de líneas de alta velocidad mide con la máxima precisión y alta resolución en casi todos los materiales, incluso los difíciles. Su versatilidad permite realizar una gran variedad de tareas de medición.
Además, el CHRocodile CLS 2.0 ayuda a reducir los costes operativos, ahorra tiempo y garantiza un control del 100% en las aplicaciones de la industria 4.0. Por último, pero no por ello menos importante, el sensor confocal lineal de alta velocidad CHRocodile CLS 2.0 es mucho más pequeño y ligero que otros dispositivos alternativos.
Aplicaciones para CHRocodile CLS 2.0 en el ámbito de los semiconductores: Inspección de uniones de cables, mediciones de protuberancias, inspección de bordes de obleas de embalaje, inspección de ranuras de corte, defectos, grietas en matrices y litografía de fotomáscaras.
Más aplicaciones para electrónica de consumo: Inspección topográfica de carcasas, inspección de superficies ligera, media y muy curvadas, inspección de chaflanes y estrías, inspección de diámetros/agujeros/superficies escalonadas, inspección cosmética con datos de altura adicionales.
Ventajas
- Alta velocidad, máxima precisión
Con sus 48 millones de puntos de medición y una velocidad de escaneado de hasta 40.000 líneas por segundo, la CHRocodile CLS 2.0 es ideal para aplicaciones de control de calidad en línea en las que el tiempo de ciclo es crítico. Además, proporciona datos con una resolución lateral y axial extremadamente alta para mediciones ultraprecisas.
- Gran flexibilidad
La versatilidad de este sensor confocal de líneas resuelve una gran variedad de tareas de medición, por ejemplo, mediciones de topografía y espesor, composiciones, capas, superficies bajo materiales transparentes y geometrías complejas.
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