Microscopio para análisis SAM 300 E
acústico de barrido SAM

Microscopio para análisis - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - acústico de barrido SAM
Microscopio para análisis - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - acústico de barrido SAM
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Aplicaciones técnicas
para análisis
Otras características
acústico de barrido SAM

Descripción

La Línea SAM ofrece microscopios acústicos de barrido fáciles de usar para el control de procesos y el aseguramiento de la calidad, así como para aplicaciones de investigación. Los modelos individuales se derivan de una plataforma de componentes que cumple con los estándares de la industria e incorpora tecnologías de producción y fabricación de vanguardia. Gracias a su nueva tecnología de alta frecuencia y transductores, nuestros microscopios acústicos permiten un análisis acústico detallado en el rango de los ultrasonidos hasta 400 MHz. - Escáner lineal de bajo ruido - No es adecuado para el funcionamiento 24/7 - Análisis de muestras en el rango de frecuencias de ultrasonido hasta 400 MHz - Especialmente adecuado para la medición acústica detallada - Equipado con una interfaz gráfica de usuario para facilitar la operación y la aplicación flexible - Rango de escaneo: x = 320 mm; y = 320 mm - 1 giga-muestra ADC

---

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.