Microscopio acústico de barrido SAM SAM 300 TWIN
para análisispara la investigación

Microscopio acústico de barrido SAM - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - para análisis / para la investigación
Microscopio acústico de barrido SAM - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - para análisis / para la investigación
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador

Características

Aplicaciones técnicas
para análisis, para la investigación
Otras características
acústico de barrido SAM

Descripción

El GEMELO del SAM 300 es una alta herramienta de rendimiento permitiendo las investigaciones acústicas no destructivas para el altos análisis de la producción, control de calidad y usos de la investigación. Ofrece un nuevo escáner de alta velocidad del movimiento linear y nuevas tecnologías del rf y del transductor de hasta 400 megaciclos, controlados a través de una interfaz gráfica fácil de usar. Un nuevo concepto maestro/satélite permite a órdenes de dos transductores adquirir imágenes acústicas simultáneas. Construido a los estándares industriales del semiconductor alrededor de una plataforma de la base que utilice la última tecnología de la producción y de la investigación, la EXPLORACIÓN del GEMELO del SAM puede manejar exactamente las obleas hasta 300 milímetros. Las frecuencias del ultrasonido se extienden hasta 500 megaciclos con los transductores a partir de 10 megaciclos - 400 megaciclos. Gama de exploración: x=250 µm-320 milímetro, y=250 µm-320 milímetro, z=100mm El foco auto se aplica a cada transductor

---

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.