Microscopio para análisis SAM 400

para la investigaciónde alta velocidadacústico de barrido SAM

El SAM 400 es una herramienta de alto rendimiento que permite realizar investigaciones acústicas no destructivas para aplicaciones dedicadas a análisis de alto rendimiento, control de calidad e investigación. Cuenta con una nueva etapa libre de mantenimiento de alta velocidad y nuevas tecnologías de rf y transductores de hasta 400 MHz, controlados a través de una interfaz gráfica de fácil manejo. Construido según los estándares de la industria de semiconductores alrededor de una plataforma central que utiliza la última tecnología de producción e investigación, el SAM 400 puede manejar con precisión obleas de hasta 300 mm y muestras de hasta 660x860x60x60 mm (w/l/h). Las frecuencias de ultrasonido se extienden hasta 500 MHz con transductores de 10 MHz a 400 MHz. Hay disponibles diferentes tamaños de tanques y bandejas. Margen de palpado: x=250 µm-430 mm, y=250 µm-430 mm, z=100mm