Microscopio acústico de barrido SAM SAM 400 QUAD
para análisispara la investigaciónde alta velocidad

microscopio acústico de barrido SAM
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Características

Aplicaciones técnicas
para análisis, para la investigación
Otras características
de alta velocidad, acústico de barrido SAM, para semiconductor

Descripción

El PATIO del SAM 400 es una alta herramienta de rendimiento permitiendo las investigaciones acústicas no destructivas para el altos análisis de la producción, control de calidad y usos de la investigación. Ofrece un nuevo escáner de alta velocidad del movimiento linear y nuevas tecnologías del rf y del transductor de hasta 400 megaciclos, controlados a través de una interfaz gráfica fácil de usar. Un nuevo concepto maestro/satélite permite a órdenes de cuatro transductores adquirir imágenes acústicas simultáneas. Construido a los estándares industriales del semiconductor alrededor de una plataforma de la base que utilice la última tecnología de la producción y de la investigación, la EXPLORACIÓN del PATIO del SAM puede manejar exactamente las obleas hasta 400 milímetros. Las frecuencias del ultrasonido se extienden hasta 500 megaciclos con los transductores a partir de 3 megaciclos - 400 megaciclos. Gama de exploración: x=250 µm-430 milímetro, y=250 µm-430 milímetro, z=100mm El foco auto es se aplica a cada transductor

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.