Microscopio para oblea SAM 300 AUTO WAFER
de inspecciónautomatizadoacústico de barrido SAM

Microscopio para oblea - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - de inspección / automatizado / acústico de barrido SAM
Microscopio para oblea - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - de inspección / automatizado / acústico de barrido SAM
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Características

Aplicaciones técnicas
de inspección
Otras características
automatizado, acústico de barrido SAM, para oblea

Descripción

La SAM 300 AUTO WAFER es una línea de productos desarrollada para el control en línea de la producción de obleas encoladas. Es compatible con sala limpia clase 10. La aplicación principal es la detección de vacíos, inclusiones y áreas delaminadas en la interfaz de unión de las obleas.

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.