Microscopio óptico
de medidasacústico de barrido SAM

Microscopio óptico - PVA TePla Group - de medidas / acústico de barrido SAM
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Características

Tipo
óptico
Aplicaciones técnicas
de medidas
Otras características
acústico de barrido SAM

Descripción

La característica única de la microscopía acústica de barrido es su capacidad de examinar no destructivamente el interior de materiales opacos con la resolución de la microscopía óptica de luz. Nuevas formas de pensar e ideas visionarias están detrás de nuestros exitosos conceptos de tecnologías de microscopía acústica de barrido que marcan tendencia. En casi todos los campos de la ciencia y la tecnología modernas ha aumentado la demanda de soluciones innovadoras y avanzadas para la obtención de imágenes no destructivas con microscopía acústica de barrido. PVA TePla Analytical Systems desarrolla, produce y suministra microscopios acústicos de barrido. Nuestros transductores únicos con frecuencias de 3 a 2000 MHz extienden las imágenes y la resolución analítica más allá de los límites previamente alcanzables.

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