Difractómetro de rayos X RAPID II

El RAPID II es sin duda el rayos X detector de área más versátil en la historia del análisis de materiales. En producción por más de una década y mejorado continuamente durante ese período de tiempo, el éxito del RAPID II es una prueba de la idoneidad de la tecnología de placa de imagen para medir los patrones de difracción y dispersión difusa de una amplia gama de materiales. Diseñada para la versatilidad Combina un área activa excepcionalmente grande de placa de imagen que es sensible a una amplia gama de fuentes de radiación con la flexibilidad para acoplarse con una gran variedad de ópticas y fuentes de rayos X. La naturaleza del detector de placa de imagen significa que las mediciones débiles se pueden hacer fácilmente en presencia de mediciones fuertes. Bajo costo de propiedad La combinación de diseño cuidadosamente probado, al cual se le ha realizado pruebas de tiempo, sin la necesidad de calibración; demuestran que el II RAPID es un detector que puede mantenerse en el campo con un mínimo de tiempo de inactividad. La prueba está en los resultados Los experimentos que se ejecutan en el RAPID II sólo están limitados por la imaginación del investigador. Los ejemplos incluyen, ID de fase de muestras de polvo, de microdifracción designando o mapeando hasta 10 micras, dispersión difusa, difracción de fibra, el análisis de estructura de pequeña molécula, tensión y las mediciones de textura, etc.