El sistema de TC microfocal para inspección de rayos X de PCB fuera de línea SE-PCT01 aprovecha las características de emisión de impulsos de alta resolución y alto brillo del tubo de TC de nanotubos de carbono.
Es un método de control de calidad para encontrar defectos ocultos en placas de circuitos.
El sistema SE-PCT01 Offline PCB X-ray Inspection Microfocal CT System aprovecha las características de la emisión de impulsos de alta resolución y el alto brillo del tubo CT de nanotubos de carbono, un algoritmo de reconstrucción CT iterativo basado en la detección comprimida. Las imágenes tomográficas multicapa, incluidas las imágenes tridimensionales de las muestras, se pueden construir en poco tiempo, y las muestras se pueden modelar, analizar y detectar con rapidez y precisión.
Fuente de rayos X
- Tensión de trabajo: 90~150 KV
- Tamaño del foco: 3~15 μm (opcional)
- Corriente de trabajo: 10~ 150 μA
- Tipo de tubo de luz: Tubo cerrado
ESPECIFICACIONES GENERALES
- Tipo: Panel digital plano
- Tamaño de píxel: 49,5 μm (opcional)
- Número de píxeles: 2304 x 2940 (opcional)
- Área de imagen: 114 x 146 mm (opcional)
- Escala de grises 14/16 bits
- Resolución del sistema: 2,5 μm
- Dimensiones estándar: 1325 x 1010 x 1650 mm
- Peso total: 800 kg
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