Patrón de calibración

de reflexiónpara refractómetro

Ideal para mediciones de reflectancia Detección de amplio rango de 250 a 2400 nm Diferentes reflectividades para mediciones difusas Sílice fundida para mediciones especulares Las mediciones de reflectancia relativa calculan la cantidad proporcional de luz reflejada de una muestra frente a la cantidad de luz reflejada de un patrón, que se supone que tiene una reflectancia del 100 %. Para las mediciones de reflectancia difusa, Sarspec ofrece un conjunto de estándares de politetrafluoroetileno (PTFE) óptico con 98%, 50% y 10% de reflectancia de 250 a 2500 nm. Estos patrones son hidrofóbicos y químicamente inertes, por lo que pueden limpiarse. Además, estos patrones también ofrecen una estabilidad a largo plazo, incluso en las mediciones de UV. Para las mediciones de reflectancia especular, Sarspec ofrece un sustrato de sílice fundida recubierto con Al-MgF2 para obtener una alta reflectividad especular de 250 a 2500 nm.