Sistema en vacío ultraalto (UHV) para microscopio de sonda de barrido (SPM) MULTIPROBE S

Sistema en vacío ultraalto (UHV) para microscopio de sonda de barrido (SPM) - MULTIPROBE S - Scienta Omicron
Sistema en vacío ultraalto (UHV) para microscopio de sonda de barrido (SPM) - MULTIPROBE S - Scienta Omicron
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Aplicaciones
para microscopio de sonda de barrido (SPM)

Descripción

El MULTIPROBE S forma la base de la gama de MULTIPROBE y es la fundación para las variantes más grandes de MULTIPROBE P y de MULTIPROBE RM. El MULTIPROBE S es un solo sistema de la ciencia UHV de la superficie del compartimiento con el compartimiento grande del análisis de la multi-técnica para la microscopia de la punta de prueba de la espectroscopia del electrón, de la exploración de UHV y la preparación de la muestra. Un sistema de transferencia de la muestra facilita la transferencia de la muestra entre SPM, el compartimiento del análisis, y la cerradura rápida de la carga de la muestra de la entrada (FEL).

---

Catálogos

FOCUS PEEM
FOCUS PEEM
16 Páginas
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.