Sistema en vacío ultraalto (UHV) para microscopio de sonda de barrido (SPM) MULTIPROBE P,XP,XA,RM

Las variantes dedicadas P, XP y RM de la preparación de la muestra de estándar se adaptan para caber el sistema de MULTIPROBE S fácilmente, incluso para una mejora más última. El sistema de MULTIPROBE LTS se puede aumentar con la variante de XP o de la XA en cualquier momento. La solución de gran alcance de la XA es una combinación de un análisis y de un compartimiento de la preparación. El MULTIPROBE P es un sistema de la ciencia UHV de la superficie del dual-compartimiento con un compartimiento grande del análisis de la multi-técnica para la microscopia de la punta de prueba de la espectroscopia del electrón y de la exploración de UHV, y un compartimiento separado de la preparación de la muestra con FEL. Los compartimientos de la preparación en el MULTIPROBE P ofrecen instalaciones de la preparación de la muestra de estándar como crecimiento de la película fina o la muestra que farfulla y que calienta. El MULTIPROBE XP es un sistema de la ciencia UHV de la superficie del dual-compartimiento con un compartimiento grande del análisis de la multi-técnica para la microscopia de la punta de prueba de la espectroscopia del electrón y de la exploración de UHV, y un compartimiento separado de la preparación de la muestra con FEL. El compartimiento de la preparación en el MULTIPROBE XP ofrece la preparación extendida de la muestra incluyendo la muestra que farfulla, calentando y crecimiento de la película fina con la caracterización "in-situ" por LEED o RHEED en el MULTIPROBE XP. El MULTIPROBE RM es un sistema dual de la ciencia UHV de la superficie del compartimiento con un compartimiento grande del análisis de la multi-técnica para la microscopia de la punta de prueba de la espectroscopia y de la exploración del electrón, y un compartimiento separado de MBE con la cubierta que se refresca LN2 satisfecha idealmente para la investigación MBE y la caracterización "in-situ" del crecimiento de la película fina con RHEED