Sistema MBE UHV PLD

La combinación de un sistema compacto de MULTIPROBE con un compartimiento de la preparación de PLD permite estudios "in-situ" de la estructura electrónica y física epitaxially de crecido las óxido-superficies y los interfaces binarios y complejos, por ejemplo perovskites tales como LaAlO3, SrTiO3, LaMnO3. El compartimiento del análisis para el análisis estructural de las muestras se equipa de una temperatura variable STM con el sensor de Qplus AFM. El analizador del electrón de SPHERA U5 y la fuente dual de la radiografía del ánodo DAR400 permiten el análisis de la estructura electrónica de las películas. El compartimiento de PLD se equipa de un manipulante de la muestra que pueda funcionar en un ambiente oxígeno-rico, una etapa de la blanco con hasta 5 blancos y un RHEED de alta presión que permita la caracterización "in-situ" de las películas crecidas.