Analizador de espectros DA20

integrablecompacto2D

Aceptación del cono completo de 20° grados sin rotación de la muestra Desviación electrónica rápida y patentada (WO2013/133739) Los efectos de los elementos de matriz se evitan manteniendo la muestra fija Asegura el mismo tamaño y forma del punto para todos los k/// Se reducen las necesidades de los manipuladores El DA20 proporciona ARPES, así como XPS y UPS, al tiempo que mantiene un tamaño compacto. El DA20 incluye la innovadora y patentada tecnología de deflexión que antes sólo estaba disponible en el DA30 más grande, lo que permite realizar mediciones ARPES de cono completo sin rotación de la muestra Los analizadores ARPES tradicionales tienen un modo angular que está restringido a la dirección angular dispersiva θx, resultando en una imagen 2D de intensidad para el ángulo θx y energía E en el detector 2D. En tal configuración, la obtención de mediciones de cono lleno requiere que la muestra sea rotada físicamente para sondear el espacio angular de θy Este movimiento físico puede introducir múltiples artefactos en la medición de ARPES. Los problemas de primer orden incluyen la medición de diferentes áreas de la muestra a medida que ésta se mueve. Los efectos de matriz también se introducen a medida que se cambian los ángulos de incidencia y de salida, afectando el escape de electrones dependientes del ángulo. Nuestros analizadores superan estos límites utilizando un modo de desviación interna para la dirección θy Con este modo de deflexión, el sistema de lentes proyecta cortes individuales de θx en la ranura del analizador para un ángulo de θy dado. Por lo tanto, el detector del analizador hemisférico mide cortes de θx vs. espectros E. El registro de estos cortes individuales mientras se cambia el ángulo del deflector θy construye un cubo de datos confiables que contienen la intensidad de todos los valores de θx, θy, E.